Minghsin University Institutional Repository:Item 987654321/1406
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 1365/1366 (100%)
造访人次 : 1332111      在线人数 : 875
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1406


    题名: 濺鍍薄鉬膜折射率、消光係數與應力隨厚度變化之研究
    作者: 江政忠
    贡献者: 光電系
    关键词: 鉬、薄膜 、直流磁控濺鍍 法、折射率 、消光係數 、穿透率 、厚度 、應力 。
    日期: 2020-10
    上传时间: 2020-11-30 09:51:24 (UTC+8)
    摘要: 本研究使用直流磁控濺鍍法製作不同厚度之鉬薄膜,厚度分別為 5、10、15、 20、30 與 50nm,並使用橢圓偏光儀與穿透式光譜儀量測鉬薄膜的折射率、消光係數、穿透率與厚度,同時使用干涉相移式菲佐應力量測儀測量鉬薄膜的應力,探討鉬薄膜的折射率、消光係數與應力隨薄膜厚度 5 至 50nm 之變化特性,具備含有鉬薄膜的光學薄膜精準設計能力與製鍍技術。當鉬薄膜厚度逐漸增加,薄膜穿透率逐漸降低,薄膜折射率也逐漸變小,薄膜消光係數則在 10nm 附近至 30nm 附近也有逐漸下降但變小幅度不大的趨勢,薄膜應力則在 15nm 附近至 50nm 附近也有逐漸下降的趨勢,也是下降幅度不大,且在厚度 10nm 附近時膜應力由張應力轉變為壓應力,推測鉬薄膜從島狀態轉變為連續膜狀態。
    显示于类别:[光電系統工程系] 校內專題研究計畫

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    江政忠.pdf1145KbAdobe PDF0检视/开启


    在MUSTIR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈