Minghsin University Institutional Repository:Item 987654321/1406
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    Title: 濺鍍薄鉬膜折射率、消光係數與應力隨厚度變化之研究
    Authors: 江政忠
    Contributors: 光電系
    Keywords: 鉬、薄膜 、直流磁控濺鍍 法、折射率 、消光係數 、穿透率 、厚度 、應力 。
    Date: 2020-10
    Issue Date: 2020-11-30 09:51:24 (UTC+8)
    Abstract: 本研究使用直流磁控濺鍍法製作不同厚度之鉬薄膜,厚度分別為 5、10、15、 20、30 與 50nm,並使用橢圓偏光儀與穿透式光譜儀量測鉬薄膜的折射率、消光係數、穿透率與厚度,同時使用干涉相移式菲佐應力量測儀測量鉬薄膜的應力,探討鉬薄膜的折射率、消光係數與應力隨薄膜厚度 5 至 50nm 之變化特性,具備含有鉬薄膜的光學薄膜精準設計能力與製鍍技術。當鉬薄膜厚度逐漸增加,薄膜穿透率逐漸降低,薄膜折射率也逐漸變小,薄膜消光係數則在 10nm 附近至 30nm 附近也有逐漸下降但變小幅度不大的趨勢,薄膜應力則在 15nm 附近至 50nm 附近也有逐漸下降的趨勢,也是下降幅度不大,且在厚度 10nm 附近時膜應力由張應力轉變為壓應力,推測鉬薄膜從島狀態轉變為連續膜狀態。
    Appears in Collections:[Department of Opto-Electronic System Engineering] Research Projects in School

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