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    題名: 白光干涉技術應用在光學薄膜折射率、消光係數與厚度量測之研究
    作者: 江政忠
    貢獻者: 光電系統工程系
    關鍵詞: 白光垂直掃瞄干涉儀、折射率、消光係數、厚度、簡形優化法
    日期: 2012-12
    上傳時間: 2013-04-16 18:56:41 (UTC+8)
    摘要: 本計畫成功地建立白光垂直掃瞄干涉儀量測光學薄膜的折射率、消光係數與厚
    度，且此白光干涉儀的軟、硬體皆自行組裝與撰寫，以壓電致動元件步進掃描方式
    獲得不同光程差之白光干涉強度，利用白光同調長度很短的特性，以及使用簡形優
    化數值分析方法與零階干涉條紋鑑定法，決定光學薄膜的折射率、消光係數與厚
    度，可支援光學薄膜鍍膜產業與光學薄膜的各種應用，包含節能技術開發與顯示技
    術開發，嘗試使白光Michelson 干涉量測儀能夠具有更多的發展與應用範圍。此計
    畫之執行不僅培育人才，也提昇我國整體的研究能力、促進國家學術地位及工業水
    準。
    顯示於類別:[光電系統工程系] 校內專題研究計畫

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