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    題名: 可重複性3C 產品落地測試分析技術之研究
    作者: 張祖華
    楊秋蘭
    貢獻者: 電子工程系
    關鍵詞: 3C 薄殼產品, 落地重複性, 落地實驗
    日期: 2009-09-30
    上傳時間: 2010-08-23 14:27:24 (UTC+8)
    摘要: 落地實驗廣被製造業用來驗證產品的安全性。 近年來因應各類型的消費
    性電子產品的小型化與輕量化，使用中由於不慎掉落於地面而損壞的機會
    相對增加，因此提供產品結構上足夠的強度以對抗掉落地面所產生的衝擊
    力，已成為產品設計上一個需要考慮的重要課題。傳統上的掉落測試不僅
    準確度不足且佔掉了巨額的開發成本。因此，開發具落地重複性且可擷取
    落地時的衝擊力之落地試驗平台，將可提供高度試驗準確性，藉以減少實
    體測試次數，降低成本，並且免除嘗試錯誤式的產品開發驗證工作，縮短
    產品Design-to-Market 的時間，以取得領先上市的契機，使產品更具競爭
    性。在本計劃中裡將進行開發落地試驗的影像擷取系統與及落地時的衝擊
    力良策系統，輔以落地實驗平台系統，用於量測加速度及瞬間之落地空間
    角度。並據以建立一套設計準則，可協助眾多的3C 廠商，完成成品設計
    並加速上市之時間，以贏取商機。
    顯示於類別:[電子工程系] 校內專題研究計畫

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