Minghsin University Institutional Repository:Item 987654321/406
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 1365/1366 (100%)
造访人次 : 1341202      在线人数 : 243
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/406


    题名: 可重複性3C 產品落地測試分析技術之研究
    作者: 張祖華
    楊秋蘭
    贡献者: 電子工程系
    关键词: 3C 薄殼產品, 落地重複性, 落地實驗
    日期: 2009-09-30
    上传时间: 2010-08-23 14:27:24 (UTC+8)
    摘要: 落地實驗廣被製造業用來驗證產品的安全性。 近年來因應各類型的消費
    性電子產品的小型化與輕量化,使用中由於不慎掉落於地面而損壞的機會
    相對增加,因此提供產品結構上足夠的強度以對抗掉落地面所產生的衝擊
    力,已成為產品設計上一個需要考慮的重要課題。傳統上的掉落測試不僅
    準確度不足且佔掉了巨額的開發成本。因此,開發具落地重複性且可擷取
    落地時的衝擊力之落地試驗平台,將可提供高度試驗準確性,藉以減少實
    體測試次數,降低成本,並且免除嘗試錯誤式的產品開發驗證工作,縮短
    產品Design-to-Market 的時間,以取得領先上市的契機,使產品更具競爭
    性。在本計劃中裡將進行開發落地試驗的影像擷取系統與及落地時的衝擊
    力良策系統,輔以落地實驗平台系統,用於量測加速度及瞬間之落地空間
    角度。並據以建立一套設計準則,可協助眾多的3C 廠商,完成成品設計
    並加速上市之時間,以贏取商機。
    显示于类别:[電子工程系] 校內專題研究計畫

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    張祖華-組合.pdf3223KbAdobe PDF580检视/开启


    在MUSTIR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈