無監督學習用於不良品偵測

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題名:	無監督學習用於不良品偵測
作者:	莊正
貢獻者:	電子系
關鍵詞:	無監督學習用不良品偵測、產線 AI 化
日期:	2020-10
上傳時間:	2020-11-30 09:37:43 (UTC+8)
摘要:	本計劃為製造業產線 AI 化中之關鍵技術,使用無監督深度學習來偵測偶發及不規則不良品, 以提高良率及節省人力成本.包括軟體系統整合,影像處理與人工智慧辨識.
顯示於類別:	[電子工程系] 校內專題研究計畫

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