English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1329134      線上人數 : 644
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧：
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號"，以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋，建議至進階搜尋限定作者欄位，可獲得較完整資料
    •  進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1402


    題名: 無監督學習用於不良品偵測
    作者: 莊正
    貢獻者: 電子系
    關鍵詞: 無監督學習用不良品偵測、產線 AI 化
    日期: 2020-10
    上傳時間: 2020-11-30 09:37:43 (UTC+8)
    摘要: 本計劃為製造業產線 AI 化中之關鍵技術,使用無監督深度學習來偵測偶發及不規則不良品,
    以提高良率及節省人力成本.包括軟體系統整合,影像處理與人工智慧辨識.
    顯示於類別:[電子工程系] 校內專題研究計畫

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    莊正-成果報告.pdf1228KbAdobe PDF1檢視/開啟


    檢視Licence

    在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋