English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1332053      線上人數 : 820
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1267


    題名: 蒸鍍薄鉻膜折射率、消光係數與應力隨膜厚度變化之研究
    作者: 江政忠
    貢獻者: 光電系統工程系
    關鍵詞: 鉻、薄膜、折射率、消光係數、厚度、應力
    日期: 2018-10-30
    上傳時間: 2018-12-17 09:23:20 (UTC+8)
    摘要: 本研究已使用電子槍蒸鍍法製作不同厚度之鉻薄膜,並使用橢圓偏光儀與穿透
    式光譜儀量測鉻薄膜的折射率、消光係數與厚度,同時使用干涉相移式菲佐應力量
    測儀測量鉻薄膜的應力,成功地探討鉻薄膜的折射率、消光係數與應力隨薄膜厚度
    之變化特性,已具備精準地含有鉻薄膜的光學薄膜設計能力與製鍍技術。鉻薄膜的
    實際測量穿透率曲線與理論計算穿透率曲線非常相近,證明橢圓偏光儀擬合,所獲
    得折射率、消光係數與厚度具有相當程度的準確性,也證明本實驗室量測結果的準
    確性是可信賴的。當加熱鉻薄膜的厚度從10nm 至20nm 時,折射率與消光係數上
    升的幅度最大。當加熱鉻薄膜的厚度從30nm 至40nm 時,鉻薄膜應力將從壓縮應
    力轉變為伸張應力,且折射率與消光係數在厚度40nm 具有最大值。
    顯示於類別:[光電系統工程系] 校內專題研究計畫

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    江政忠成果報告.pdf663KbAdobe PDF0檢視/開啟


    在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋