English
| 正體中文 |
简体中文
|
全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1340208 線上人數 : 754
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜尋範圍
全部MUSTIR
工學院
光電系統工程系
--校內專題研究計畫
查詢小技巧:
您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
進階搜尋
主頁
‧
登入
‧
上傳
‧
說明
‧
關於MUSTIR
‧
管理
Minghsin University Institutional Repository
>
工學院
>
光電系統工程系
>
校內專題研究計畫
>
Item 987654321/1007
資料載入中.....
書目資料匯出
Endnote RIS 格式資料匯出
Bibtex 格式資料匯出
引文資訊
資料載入中.....
資料載入中.....
請使用永久網址來引用或連結此文件:
http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1007
題名:
高功率多晶粒LED封裝結構熱阻量測系統開發
作者:
殷尚彬
貢獻者:
光電系統工程系
關鍵詞:
發光二極體,熱阻穩態量測多晶粒封裝 LED
日期:
2015-10
上傳時間:
2016-01-13 15:39:21 (UTC+8)
摘要:
本計畫主要是針對目前LED產業中非常重要的多晶粒封裝LED元件之熱阻量測與分析技術的所進行的研究。對於以白光LED為主的固態照明而言,如何利用單一LED元件提供燈具足夠亮度的要求已經成為LED重要的發展項目,這些技術包括了將多顆高功率封裝的LED集成模組,或是在單一LED封裝體中封入多顆晶粒的多晶粒LED封裝形式,亦即所謂的多晶粒封裝LED元件(如圖1所示)。相較於多顆高功率封裝的LED集成模組,多晶粒LED封裝可用單一LED封裝體達到高發光強度的需求,並且擁有較小的體積,因此逐漸成為照明市場的主流之一。但在單一LED封裝體中封入多顆晶粒的情況下,LED封裝體中的LED晶粒可能會因為熱的問題相對嚴重而造成發光強度的下降,這將使得LED晶粒溫度過高而造成其發光強度減低、壽命衰減與波長漂移,更可能導致元件間承受過大機械應力而損毀。因此除了提昇LED封裝散熱的能力外,如何正確評估多晶粒封裝LED元件的散熱能力亦是重要訴求。因此本研究希望能藉由參考自NIST的單晶粒LED元件的熱阻量測方法(如圖2所示),推展至多晶粒LED封裝元件量測,希望能藉由詳細的實驗設計以及分析評估,提供LED產業簡易卻精確的多晶粒LED封裝元件量測方法。
顯示於類別:
[光電系統工程系] 校內專題研究計畫
文件中的檔案:
檔案
描述
大小
格式
瀏覽次數
成果報告-殷尙彬.pdf
1450Kb
Adobe PDF
77
檢視/開啟
在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
回饋