English
| 正體中文 |
简体中文
|
全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1339916 線上人數 : 514
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜尋範圍
全部MUSTIR
管理學院
工業工程與管理系
--校內專題研究計畫
查詢小技巧:
您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
進階搜尋
主頁
‧
登入
‧
上傳
‧
說明
‧
關於MUSTIR
‧
管理
Minghsin University Institutional Repository
>
管理學院
>
工業工程與管理系
>
校內專題研究計畫
>
Item 987654321/724
資料載入中.....
書目資料匯出
Endnote RIS 格式資料匯出
Bibtex 格式資料匯出
引文資訊
資料載入中.....
資料載入中.....
請使用永久網址來引用或連結此文件:
http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/724
題名:
智慧型照度分佈量測之研究
作者:
馬心怡
貢獻者:
工業工程與管理系
關鍵詞:
神經網路,照度分佈量測 ,CCD 攝像機
日期:
2012-12
上傳時間:
2013-04-16 19:30:54 (UTC+8)
摘要:
本計畫利用數位相機抓取物體表面的影像,計算出該影像灰階的二維分佈關係,並以影像實際的照度值為基準,校正原始的圖檔灰階使成其正確的灰階,使用CCD光電取像系統對受光表面攝影,藉以快速取得待測的受光表面的影像,並在包含了類神經網路的校正流程的運作下,該受光表面影像的各像素的灰階值會被計算與校正成正確的照度值,藉此可獲得待測表面上的的照度值分佈,甚至是在使用不同類型的燈具或是在不同待測表面的照明條件下,仍然可以取得待測表面上正確的照度分佈。在實驗過程中將利用市售的單點照度計所量測的照度值作為量測對照組,藉以瞭解智慧型照度分佈量測儀相對於傳統的單點照度量測法之誤差大小與分析誤差來源,以改進量測設備與修正校正的技術與方法流程。
顯示於類別:
[工業工程與管理系] 校內專題研究計畫
文件中的檔案:
檔案
描述
大小
格式
瀏覽次數
馬心怡.pdf
1409Kb
Adobe PDF
150
檢視/開啟
在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
回饋