考慮不同需求型態之IC 測試廠之績效評估

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題名:	考慮不同需求型態之IC 測試廠之績效評估
作者:	呂博裕
貢獻者:	工業工程與管理系
關鍵詞:	IC測試廠、需求型態、模擬分析
日期:	2011-12
上傳時間:	2012-05-11 10:24:54 (UTC+8)
摘要:	由於在密度與複雜度方面的逐漸整合，IC測試所面臨的問題如：測試世代、測試時間、測試速率、測試成本、測試排程、測試存取機制、輸入的可控制性、輸出的可顯示性等已變得越來越複雜與尖銳，而測試成本已佔電子產品總成本之一大部分。本研究探討一典型 IC測試廠，且 IC測試廠之測試站通常配備多台測試機台。同時， IC測試廠一般是根據已接受客戶訂單之要求，使 IC經過測試、電性抽測、正印掃描與機器檢腳、檢腳抽檢與彎腳修整、烘烤、與包裝等主要程序，以完成測試工作。本研究之主要目的是提出一個以模擬為基礎之研究架構，以探討各實驗變數 (包括：需求型態、交期變異、測試不合格率等) 對 IC測試廠之影響程度。本研究所採用的績效指標包括：系統成本、達交率、流程時間、與總延遲時間量。本研究並以一個實際的 IC測試廠為例子，以示範所提出的研究架構。範例之分析結果顯示，若以系統成本為主要的績效指標，二種需求型態之表現端視測試不合格率之水準而定；若以達交率或總延遲時間量為主要的績效指標，以長的訂單抵達間隔時間與大的訂單批量之搭配表現較佳；若以流程時間為主要的績效指標，則以短的訂單抵達間隔時間與小的訂單批量之搭配表現較佳。
顯示於類別:	[幼兒保育系] 校內專題研究計畫

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