麥克森干涉實驗的教學儀器設計改良

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Title:	麥克森干涉實驗的教學儀器設計改良
Authors:	丁逸
Contributors:	自然科學教學中心
Keywords:	麥克森干涉儀、移動機構
Date:	2009-09-30
Issue Date:	2010-08-20 10:22:26 (UTC+8)
Abstract:	麥克森干涉儀(Michelson interferometer)是利用光波的干涉現象，而使量測的精度提高到二分之一個波長，可應用於精密量測上。麥克森干涉儀，係以部分反射平面鏡使振幅區分所得的兩束光進行的方向完全不同，當其再相遇時便形成干涉條紋。學生如能瞭解麥克森干涉儀的基本原理和調整方法，便可進一步利用麥克森干涉儀來作一些量測實驗。為了加強麥克森干涉實驗的教學儀器操作方便耐用及提高實驗精度，本計畫主要是設計及改良其平移平面鏡的移動機構。當實驗是設計為計算光源的波長時，就要觀測干涉條紋的數目或產生明暗的次數。而平面鏡只需移動微小距離，就會頻繁發生此物理現象，不方便觀測和計算，如何精準控制此微小距離，是操作麥克森干涉儀的核心技術之一。所以如果能設計一精密又耐用的移動機構，安裝於麥克森干涉實驗的教學儀器中，不但能提高實驗的精密度，亦可增加儀器的耐用度，對於儀器製造的附加價值也相對提高。
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