半導體製造廠優序法則動態評估模式之建構

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Title:	半導體製造廠優序法則動態評估模式之建構
Authors:	林於杏
Contributors:	工業工程與管理系
Keywords:	半導體製造、派工法則、生產目標、模糊德菲法、分析網路程序法
Date:	2008-12
Issue Date:	2010-03-25 15:42:34 (UTC+8)
Abstract:	半導體製造是資本密集、製程複雜之高科技產業，因此半導體製造廠大都以生產派工法做為達成生產目標的重要手段。目前常見之生產派工方法大都是針對單一生產目標而設計，較少同時考慮到其他生產目標的達成；除此之外，各生產目標間甚至存在互相衝突的情形，再加上生產績效目標會因產線狀況及外在需求而有所變動，因此，有必要釐清在不同的內外在因素改變下所造成之生產特徵、及特定生產特徵與生產績效目標之關連性及其影響程度。本計畫及基於前述概念，在反映諸多改變因素下，探討考慮生產特徵之多目標派工法則評估架構，透過選取適當之派工法則達成既定之生產目標。本研究分兩年進行；第一年利用模糊德菲專家問卷分析及歸納生產特徵及相關之生產績效目標；第二年則利用第一年之成果(如生產相關特徵及生產績效目標等)建構『分析網路程序法』之派工法則評估模式，依據現場各項生產特徵（如瓶頸機台利用率等），探討多種生產績效目標間之關係，及生產績效目標與生產派工法則之間相關性。本研究之『派工法則動態評選模式』提供一個考量環境變化、生產特徵及生產目標調整之現場派工法則分析模式，將有效的對半導體廠內之生產派工問題予以結構化分析，作為半導體製造生產控制人員決策之依據，提高派工決策之效能及品質。
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