Minghsin University Institutional Repository:Item 987654321/1616
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1332566      線上人數 : 363
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1616


    題名: 使用堆疊磊晶層與屏蔽摻雜於分離式閘極結構功率金氧半 場效電晶體之最佳化設計
    作者: 陳啟文
    貢獻者: 電子工程系所
    關鍵詞: 功率金氧半場效電晶體、溝槽分離式閘極、多層磊晶層、複晶矽薄 膜電晶體、導通電阻。
    日期: 2022-10
    上傳時間: 2022-11-24 16:37:05 (UTC+8)
    摘要: 功率金氧半場效應電晶體主要用於電力設備的電能變換和電路控制,是進行電能(功率)處理的核心元件,包括電源供應器、通訊設備、汽車電子、工業電子、消費性電子及顯示器等,尤其是汽車電子產業快速發展,使得該元件需求快速增加。對於功率元件而言,兩項最重要的特性是崩潰電壓(breakdown voltage)與特定導通電阻(Ron,sp),由於這兩個參數是互相影響的,因此要同時擁有高耐壓和低導通電阻相當不易。典型的功率元件功能包括變頻、變壓、變流、功率放大和功率管理,除保證設備正常運行外,功率元件還起到節能的作用,為了降低功率元件的傳導損耗,低導通電阻元件的研究成為各研究者的競爭目標。本計劃使用元件模擬軟體對元件製程與元件設計進行模擬,針對業界已有之150V 中壓功率電晶體,在維持導通電阻的前提下,搭配四種製程結構-溝渠式閘極/分離式複晶閘極/堆疊磊晶層/底層離子佈植進行模擬及實驗,從中找出最佳的組合,將崩潰電壓大幅提升至200V 以上。
    顯示於類別:[電子工程系] 校內專題研究計畫

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    111校內計畫成果報告-啟文20221030.pdf2339KbAdobe PDF0檢視/開啟


    在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋