Minghsin University Institutional Repository:Item 987654321/1171
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 1365/1366 (100%)
造访人次 : 1334454      在线人数 : 737
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1171


    题名: 太陽能電池多晶矽切片製程最佳參數設定- 以A 公司為例
    作者: 黃嘉若
    贡献者: 工管系
    关键词: 砷化鎵產業鏈、DMAIC、晶棒切割、複線切割
    日期: 2016-10
    上传时间: 2017-02-15 15:14:59 (UTC+8)
    摘要: 在將晶棒切割成基板製程,當屬面方位角品質特性最為重要,因為當切割後基板的面方位角不良時無法重工而會判定為不合格品。在採用複線切割技術生產下,一支單結晶晶棒在切割完後,理想上每片皆具備相同一致的面方位角。然而,若是出現製程異常,可能會使數百枚基板的面方位角超出規格。以六吋晶棒來說會損失約13~15公斤。
    本研究是以單結晶砷化鎵晶棒基板切割製程為研究對象。嘗試以六標準差的管理手法DMAIC導入製程改善流程中,對製造流程變異作評估,並利用Minitab分析軟體檢定目標,找出產品的可歸屬原因和機會原因。如此,便可掌握關鍵變因,提升製程能力。另外,建立關鍵品質特性的管控系統,確保產品的高良率,進而可達到六標準差管理的目標。
    本研究以6吋晶棒產品為例,砷化鎵基板的切割將結合後的分析模式導入,使得原先品質特性-正崩值的製程能力Cpk得到改善。以個案中切割台的測角器為例,X軸偏差角Cpk指標自1.08 提升至 2.24、Y軸偏差角Cpk指標1.28提升至3.23,使得面方位角偏差值從0.020度降低0.011度、標準差自0.0091下降至0.0048成功的驗證此分析模式可提升其製程能力,並減少不良品的成本浪費及提高製程水準
    显示于类别:[工業工程與管理系] 校內專題研究計畫

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    黃嘉若-成果報告.pdf2837KbAdobe PDF0检视/开启


    在MUSTIR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈