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    題名: 攙鋁雜質MOHOS型元件作游離輻射劑量計之研究
    作者: 謝文靚
    貢獻者: 光電系統工程系
    關鍵詞: SOHOS、電容、輻射偵測器
    日期: 2016-10
    上傳時間: 2017-01-09 14:53:25 (UTC+8)
    摘要: 跟傳統的偵測器比較，半導體劑量計有高靈敏度，尺寸小，重量輕和線性測量的輸
    出特性。但是以半導體技術製作的典型GAMMA 輻射偵測器-金屬氧化矽半導體，被儲存
    的劑量數據在高溫下容易揮發。在本計畫的攙鋁雜質MOHOS 電容元件因輻射作用而產生
    的電荷可被長久儲存在攙鋁雜質MOHOS 電容元件內而不揮發，同時電荷也可被累積儲存
    在攙鋁雜質MOHOS 電容元件內長久而不揮發。攙鋁雜質MOHOS 電容元件內被累積儲存的
    電荷量與入射輻射劑量成正比。
    在本計畫的攙鋁雜質MOHOS 型元件因輻射作用而產生的電荷可被長久儲存在攙鋁雜
    質MOHOS 電容元件內而不揮發，同時電荷也可被累積儲存在攙鋁雜質MOHOS 電容元件內
    長久而不揮發。攙鋁雜質MOHOS 電容元件內被累積儲存的電荷量與入射輻射劑量成正
    比。本計畫利用熱成長與低壓化學氣相沉積成長了攙鋁雜質MOHOS 電容元件結構;結果
    可看出各電容元件照射輻射不同劑量之後，CV 曲線明顯平移，由CV 曲線平移反推可知
    與劑量呈現正比關係，而表示攙鋁雜質MOHOS 電容元件閘極介電質層的正缺陷電荷數量
    增加改變，使攙鋁雜質MOHOS 電容元件的Vt 值變小，且不同結構吸收了同劑量輻射後
    CV 曲線平移改變的量也不同，所以攙鋁雜質MOHOS 電容元件可用於γ射線劑量計且寫入
    γ-ray 之後的Vt 改變和γ-ray 曝光的劑量是正比的關聯，因此本篇論文證明攙鋁雜質
    MOHOS 電容元件可用於γ射線劑量計的可能性。
    顯示於類別:[光電系統工程系] 校內專題研究計畫

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