English
| 正體中文 |
简体中文
|
全文筆數/總筆數 : 1365/1366 (100%)
造訪人次 : 1330722 線上人數 : 951
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜尋範圍
全部MUSTIR
管理學院
工業工程與管理系
--校內專題研究計畫
查詢小技巧:
您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
進階搜尋
主頁
‧
登入
‧
上傳
‧
說明
‧
關於MUSTIR
‧
管理
Minghsin University Institutional Repository
>
管理學院
>
工業工程與管理系
>
校內專題研究計畫
>
Item 987654321/1040
資料載入中.....
書目資料匯出
Endnote RIS 格式資料匯出
Bibtex 格式資料匯出
引文資訊
資料載入中.....
資料載入中.....
請使用永久網址來引用或連結此文件:
http://120.105.36.38/ir/handle/987654321/1040
題名:
應用六標準差方法於TFT-LCD廠的製程設備管理之研究
作者:
黃文昌
貢獻者:
工管系
關鍵詞:
薄膜電晶體液晶顯示器、六標準差、失效模式與效應分析
日期:
2015-10
上傳時間:
2016-03-02 14:19:10 (UTC+8)
摘要:
薄膜電晶體液晶顯示器(TFT-LCD)為台灣重要產業之一,但現今卻面臨與世界其他大廠的競爭壓力,因此若要在競爭中脫穎而出,就必要有好的品質及一流的製造工廠,而其重要的關鍵影響因素,即在具備完整的生產流程規劃與優秀且訓練有素的員工,另製造設備的穩定性及其稼動率亦為相當重要的環節。
本研究以六標準差的DMAIC手法針對TFT-LCD工廠如何在預防保養中,提升其設備的穩定性與稼動率,使產品有穩定的良率與產能的提升,以未雨綢繆之精神,發展出預期的高品質水準。研究導入失效模式與效應分析(FMEA)的評估,分析出製程設備中相關失效風險的影響,並區分探討其可能發生嚴重程度的各種模式,以便能夠採取適當的預防措施,對嚴重性或關鍵性等級較高之範圍,設法防止其發生失效之機會,或降低失效可能造成的影響,並據此建立在大量生產時,失效重現的有效管制方案,來提昇製程設備之信賴性。
顯示於類別:
[工業工程與管理系] 校內專題研究計畫
文件中的檔案:
檔案
描述
大小
格式
瀏覽次數
成果報告-黃文昌.pdf
1890Kb
Adobe PDF
36
檢視/開啟
在MUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
回饋